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貼片電容壽命檢測方法

2019-03-29

貼片電阻電容壽命檢測方法,貼片電容的使用並非無限,使用過久後還是會有消耗,貼片電容的使用壽命是有限的,貼片電容的壽命有兩層含義,其一是老化壽命,其二是使用壽命。下麵風華電容代理商為大家提供技術知識講解。
  貼片電容的老化壽命一般沒有多大實際意義。一顆電容即便生產出來很多年,也一樣可以正常使用。這個和晶振不太一樣。當然如果倉儲環境達不足,出廠時間久的貼片電容端電極有可能老化,導致焊接性能下降。因此原則應該購買出廠一年以內的產品。
  風華貼片電容使用壽命測試方法:
  一、測試方法
  1、低壓貼片電容(≤100V)
  電壓:1.5 倍額定工作電壓。
  時間:1000 小時。
  溫度:125℃(NPO、X7R) 85℃(X5R、 Y5V)。
  充電電流:不應超過50mA。
  放置條件:室溫。
  放置時間:24 小時(Ⅰ類),或48 小時(Ⅱ類)。
  2、中高壓貼片電容:
  100V≤額定電壓<;500V:2 倍工作電壓。
  500V≤額定電壓≤1000V:1.5 倍工作電壓。
  額定電壓>;1000V:1.2 倍工作電壓。
  時間:1000 小時。
  充電電流:不應超過50mA。
  溫度:125℃(NPO X7R);85℃(X5R、Y5V)。
  放置條件:室溫。
  放置時間:24 小時(Ⅰ類),或48小時(Ⅱ類)。
  二、測試標準:
  ΔC/C
  Ⅰ類:≤±2%或±1pF 取兩者之中較大者。
  Ⅱ類:B,X: ≤±20% ;E,F: ≤±30%。
  ΔC/C:
  Ⅰ類:≤±2%或±1pF取兩者之中較大者。
  Ⅱ類:B,X: ≤±20%;E,F: ≤±30%。
  DF:
  ≤2 倍初始標準。
  IR
  Ⅰ類:Ri≥4000MΩ或 Ri• CR≥40S 取兩者之中較小者。
  Ⅱ類:Ri≥2000MΩ或 Ri• CR≥50S 取兩者之中較小者。
  外觀
  無損傷

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